Kossel interferences of proton-induced X-ray emission lines to study the interfaces of thin film waveguides - La Plateforme SAFIR : Système d’Analyse par Faisceaux d’Ions Rapides Accéder directement au contenu
Poster De Conférence Année : 2018

Kossel interferences of proton-induced X-ray emission lines to study the interfaces of thin film waveguides

Fichier principal
Vignette du fichier
poster -Jiaping Zhang.pdf (884.98 Ko) Télécharger le fichier
Origine : Fichiers produits par l'(les) auteur(s)

Dates et versions

hal-03932192 , version 1 (10-01-2023)

Licence

Paternité

Identifiants

  • HAL Id : hal-03932192 , version 1

Citer

Jiaping Zhang, Christopher Pendenque, Karine Le Guen, Renaud Delaunay, Ian Vickridge, et al.. Kossel interferences of proton-induced X-ray emission lines to study the interfaces of thin film waveguides. 3rd International Summer School on the Physical and Chemical Principles in Materials Science, Jul 2018, Nanjing, China. ⟨hal-03932192⟩
7 Consultations
4 Téléchargements

Partager

Gmail Facebook X LinkedIn More