Reflection ellipsometry for in-situ measurements of complex permittivity and thickness of a single-layer material at microwave frequencies : Theory and Experiments

Type de document :
Communication dans un congrès
32nd EUMC, Sep 2002, Milan, France. 10pp., 2002
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Contributeur : Christophe Vignat <>
Soumis le : dimanche 11 septembre 2011 - 13:14:31
Dernière modification le : dimanche 11 septembre 2011 - 13:14:31

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  • HAL Id : hal-00621814, version 1

Citation

F. Sagnard, D. Seetharamdoo, Christophe Vignat. Reflection ellipsometry for in-situ measurements of complex permittivity and thickness of a single-layer material at microwave frequencies : Theory and Experiments. 32nd EUMC, Sep 2002, Milan, France. 10pp., 2002. <hal-00621814>

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