In Situ Measurements of the Complex Permittivity of Materials Using Reflection Ellipsometry in the Microwave Band: Experiments (Part II)

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IEEE Tr. Instr. and Measurements, 2005, 54 (3), pp.1274-1282
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Contributeur : Christophe Vignat <>
Soumis le : dimanche 11 septembre 2011 - 13:17:53
Dernière modification le : vendredi 4 mai 2012 - 11:23:10

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  • HAL Id : hal-00621848, version 1

Citation

F. Sagnard, F. Bentabet, Christophe Vignat. In Situ Measurements of the Complex Permittivity of Materials Using Reflection Ellipsometry in the Microwave Band: Experiments (Part II). IEEE Tr. Instr. and Measurements, 2005, 54 (3), pp.1274-1282. <hal-00621848>

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