https://hal-upec-upem.archives-ouvertes.fr/hal-00621848
Contributeur : Christophe Vignat <>
Soumis le : dimanche 11 septembre 2011 - 13:17:53
Dernière modification le : vendredi 4 mai 2012 - 11:23:10
F. Sagnard, F. Bentabet, Christophe Vignat. In Situ Measurements of the Complex Permittivity of Materials Using Reflection Ellipsometry in the Microwave Band: Experiments (Part II). IEEE Tr. Instr. and Measurements, 2005, 54 (3), pp.1274-1282. <hal-00621848>
