https://hal-upec-upem.archives-ouvertes.fr/hal-00621848
Contributeur : Christophe Vignat
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Soumis le : dimanche 11 septembre 2011 - 13:17:53
Dernière modification le : jeudi 7 février 2019 - 16:44:58
F. Sagnard, F. Bentabet, Christophe Vignat. In Situ Measurements of the Complex Permittivity of Materials Using Reflection Ellipsometry in the Microwave Band: Experiments (Part II). IEEE Tr. Instr. and Measurements, 2005, 54 (3), pp.1274-1282. 〈hal-00621848〉
